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结构分析X射线管的物质结构分析

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结构分析X射线管的物质结构分析

发布日期:2018-05-28 作者: 点击:

  物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法,但是XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)有力的方法,而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛,现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中,成为一种重要的实验方法和结构分析手段,具有无损试样的优点。

  X射线衍射仪的基本构造:X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, X射线衍射仪主要部件包括4部分。

  结构分析X射线管高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。X射线管发生出来的不是纯净的单色光,包含多种波长的射线,主要的是K系射线。K系射线是指阴极电子碰撞阳极,使阳极电子产生K 激发,击走K 层电子后,L层或M 层电子填充K 层电子而产生的X 射线。


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