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荧光分析X射线管射线衍射对于研究外延层和其他薄膜材料具有特殊价值

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荧光分析X射线管射线衍射对于研究外延层和其他薄膜材料具有特殊价值

发布日期:2021-07-19 作者: 点击:

  结构分析X射线管残余应力主要是由材料及材料制品构件内部不均匀的塑性变形引起的,残余应力严重影响构件的加工精度和尺寸稳定性、静强度、疲劳强度和腐蚀开裂。在质量控制和预测产品寿命中残余应力的检测是尤为重要的。利用粉末X射线衍射数据解析材料晶体结构对各行各业都十分重要的,如:化学化工、材料科学、地质勘探、生物科技和制药等。X射线衍射仪成为解析材料分子结构理想设备。高稳定性的X射线发生器控制系统,得到更稳定的重复测量精度,程序化操作、结构设计,操作简便、仪器外型更美观同一平面内任意设定样品测量点数,自动顺序完成残余应力测量;高分辨率SDD探测器,靶材固定时,可实现对各种材料残余应力测量;同时配置Si漂移线阵探测器,快速完成残余应力测量;X射线衍射是目前无损测量残余应力的方法,X射线衍射仪和5维转台组合,为材料及材料制品的残余应力测定提供可靠的检测手段。

  荧光分析X射线管射线衍射对于研究外延层和其他薄膜材料具有特殊价值。采用精密的晶格参数的测量方法,可以很准确的确定晶格的外延层及其基底。在外延器件中晶格参数匹配或不匹配是一个重要因素如磁泡存储器的磁性石榴石薄膜,LED用掺杂砷化镓薄膜和高速晶体管和其他重要的电子产品。对于薄膜X射线衍射的另一个应用是使用高温衍射通过测定晶格参数随温度的变化来确定热膨胀系数。硬件系统和软件系统的结合,满足不同应用领域学者、科研者的需要,DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的,是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。利用粉末X射线衍射数据解析材料晶体结构对各行各业都十分重要的,如:化学化工、材料科学、地质勘探、生物科技和制药等。X射线衍射仪成为解析材料分子结构理想设备。


荧光分析X射线管

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