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荧光分析X射线管X射线是由钨基靶中快速移动的电子的快速减速产生的

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荧光分析X射线管X射线是由钨基靶中快速移动的电子的快速减速产生的

发布日期:2018-07-27 作者: 点击:

  X射线是由钨基靶中快速移动的电子的快速减速产生的。电子是由加热的钨丝(阴极)产生的。工业探伤X射线管外壳通常由玻璃构成,但可以是金属和/或陶瓷。工业探伤X射线管包含真空,以便以大效率加速电子。安检X射线管在诊断X射线管中,电子在40~120千伏之间的电位差加速。图像X射线作为轫致辐射和特征辐射在阳极产生,效率约为1%。图像阳极旋转,以分散在大面积的热负荷,以防止过热。图像由一个感应电机旋转,在线圈外面有线圈和一个连接在阳极上的铜转子。X射线在阳极上的焦斑处产生,焦斑越小,X射线束的半暗带越小。X射线在管的所有方向上发射,但通过管壳中的“窗口”或端口被限制在一个小区域。结构分析X射线管特别适用于无纺布、纸张、塑料膜、铝箔、铜箔厚度的检测。适用于轻元素的X荧光分析。适用于由轻元素组成材料的X射线测厚,X荧光分析,密度分析,X射线成像术,在线流程控制等。 

  类似的难点在航空发动机零部件的检测中很常见,荧光分析X射线管X射线源须非常靠近焊接点,同时胶片及探测器需要放置在焊接处的另一侧,使用普通的X射线管,不可能将X射线源靠近缺陷处,而且不可避免的需要穿透很厚的管壁,穿透双壁厚度导致分辨率和对比度降低,而且会产生重叠分辨被检测区域的现象。射线照射及射线透视技术广泛应用在无损检测领域中,在普通的射线检测系统中,一般将工业探伤X射线管X射线源放置在被检测物的前面,一个X射线感光胶片或探测器放置在被检测物的后面,用以接收穿透被检测物后残余的射线,但是许多被检测物的缺陷所处的位置非常不适用于这种检测方式。


荧光分析X射线管

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关键词:安检X射线管,荧光分析X射线管,结构分析X射线管

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