大厚度比对射线照相质量的不利影响主要表现在两个方面：一是因试件厚度差较大导致底片黑度差较大，而底片黑度过低或过高都会影响射线照相灵敏度。二是因试件厚度变化导致散射比增大，产生边蚀效应。荧光分析X射线管黑度是底片质量的一个重要指标，为保证底片具有足够的对比度，黑度不能太小，另一方面受观片灯亮度的限制，底片黑度又不能过大，黑度过大将造成透过光强不足，导致人眼观察识别能力下降，影响底片的评定。暗盒里放置的两张胶片一般应选用感光度不同的两种胶片，其中感光度较大的胶片适用于透照厚度较大部位的观察评定。结构分析X射线管另一种是在暗盒中放置感光速度相同的两张胶片，管片方法是对黑度较小部位，将双片重叠观察评定，对黑度较大部位，用单片观察评定。

　　对大厚度比试件透照的特殊技术措施包括适当提高管电压技术、双胶片技术和补偿技术。黑度过高 ：显影液温度过高或显影时间过长造成底片黑度超过标准要求，或超过观片灯亮度所能观察范围。补偿技术时指用补偿块、补偿粉、补偿泥、补偿液等填补工作浇薄部分，安检X射线管使透照厚度差减小的方法，焊缝照相可使用厚度补偿块，形状不规则的小零件照相可使用流质吸收剂（醋酸铅加硝酸铅溶液），或金属粉末作为厚度补偿物。对厚度差较大的工件，可以采用在一只暗盒里放两张胶片同时透照的双胶片技术。适当提高管电压是透照大厚度比试件常采用的，也是简便的方法。黑度过低 ：显影液温度过低或显影时间过短或显影液活性达不到要求，造成底片黑度低于标准要求值。