X射线发生器主要由高压控制系统和荧光分析X射线管组成。 它是产生X射线的设备（产生X射线的设备）。 由荧光分析x射线管发射的X射线包括连续X射线光谱和特征X射线光谱。连续X射线光谱法主要用于判断晶体的对称性和Laue方法的晶体取向。 特征X射线用于旋转单体法进行晶体结构研究，粉末法用于相鉴定。 

　　测角仪是衍射仪的重要组成部分，X射线使用衍射原理来确定物质的晶体结构质地和应力。 结构分析X射线管执行物质的相分析，定性分析和定量分析。广泛用于冶金，石油，化工，科研，教学，材料生产等领域。 

　　当已知X射线波长时，可以使用细粉或细粒多晶的线性样品。在反射面被反射。 在测量了θ之后，可以使用布拉格公式确定晶格平面间距晶胞尺寸和晶胞类型。 

　　在X射线结构分析中使用粉末法的理论基础确定衍射线的强度，可以进一步确定晶胞中原子的排列。 结构分析X射线管的特性X射线是一种短波长的电磁波，它可以穿透一定厚度的材料，并使荧光材料发光感光乳剂感光，并产生气体被离子化。 通过用电子束轰击金属“靶”而产生的X射线包括具有特定波长的X射线，该特定波长对应于靶中的各种元素，称为特征X射线。 发现荧光分析X射线管的X射线衍射现象后，很快就被用于研究金属和合金的晶体结构，已成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。 

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