丹东深博电子仪器有限公司，始建于2002年，至今已有20余载，公司始终在X射线管行业深耕细做，我们主要致力于生产结构分析X射线管、荧光分析X射线管、晶体分析X射线管、测厚X射线管、工业探伤X射线管的研制、开发与生产，并且制造和维修各种高压电缆，同时公司承接国家重大专项项目。
公司产品可为国内外各种X射线衍射仪、晶体分析仪、应力测定仪、X射线荧光光谱仪、X射线探伤机等仪器配套。另外，在宝石测定、钢板、铝铂在线测厚等行业和部门也得到广泛应用…
这款型号为DYX-4000的大功率端窗X射线管，是专门为波长色散荧光光谱仪定量分析而设计的。在X射线荧光光谱分析中，通过短靶至样品距离提供高强度宽谱X射线束。
结构分析X射线管 型号：JTXJ10-60N 用途：适用于X射线衍射仪
XJ10-60N型X射线管是一种X射线衍射管
XJ10-60N型X射线管是一种X射线衍射管
XJ10-60N型X射线管是一种X射线衍射管
XY7-501型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
XY7-501GFT型X射线管是多用途侧窗低能型X射线管
XY7-501C型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
XY7-501-68型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
XY7-501-82型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
XY7-501T-82型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
XY7-501GFF型X射线管是多用途侧窗低能型X射线管
XY6-301型X射线管是侧窗通用型低能X射线管
ZXY7SL-502型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
XY16-6501B型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
XY7-501GFT型X射线管是多用途侧窗低能型X射线管
XY7-501TAX型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
ZXY7SL-502型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
XY7-501GFF型X射线管是多用途侧窗低能型X射线管…
XY7-501GF型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
荧光分析X射线管的靶材有哪些种类？荧光分析 X 射线管的靶材种类丰富，可分为通用型靶材和专用型靶材两大类，不同靶材的特征谱线能量、连续谱强度及适用场景差异显著，核心分类及特点如下：一、通用型靶材通用型靶材可产生广谱 X 射线，覆盖多元素检测需求，是市场上的主流选择。铑（Rh）靶这是较常用的通用型靶材。其特征谱线（Kα=20.2 keV、Kβ=22.7 keV）能量适中，连续谱覆盖范围广，可有效激发镁（Mg）至铀（U） 的全元素范围。铑靶的背景噪声低，多元素同时检测时信噪比优异，适配 RoHS 筛选、金属材料成分分析、地质样品检测等绝大多数场景，广泛应用于便携 EDXRF、台式 EDXRF 及部分 WDXRF 设备。钨（W）靶钨靶的原子序数高，连续谱强度显著高于其他靶材，特征谱线（Kα=59.3 keV、Kβ=67.2 keV）能量高，适合激发高原子序数重元素（如铅、汞、铀等）。其缺点是低能区背景噪声较高，轻元素检测效果一般，多用于痕量重金属检测、核材料分析等场景。银（Ag）靶银靶的特征谱线（Kα=22.1 keV、Kβ=24.9 keV）能量与中重元素（铜、锌、铅等）的吸收边匹配度高，...
不同类型的荧光分析X射线管有哪些特点？荧光分析X射线管核心按结构形式、功率等级、靶材类型三大维度划分，不同类型在结构设计、性能表现与适用场景上差异显著，以下为各类的核心特点及适配方向。按结构形式可分为端窗型与侧窗型。端窗型X射线从阳极靶端面出射，与电子束方向垂直，靶材利用率超80%，散热效率高，可配套水冷实现高功率运行，且焦斑尺寸小（几十微米级），适合微区分析；但体积大、结构复杂、成本高，仅适配高功率台式WDXRF、高精度EDXRF，用于实验室常量/痕量分析、金属成分检测等。侧窗型X射线从管体侧面出射，结构紧凑、体积小、重量轻，成本低且安装灵活，采用风冷即可满足散热需求，适配便携设备；但靶材利用率仅30%–50%，焦斑尺寸大（大于1 mm），功率上限低，主要用于便携/手持式EDXRF，适配RoHS筛选、现场快速检测等场景。按功率等级可分为低、中、高功率三类。低功率管（1–10 W）多为侧窗型，管电压4–50 kV、电流1–200 μA，风冷散热，便携性强、检测快，适合现场快速筛选；但输出强度低、精度有限，适配手持XRF的消费品重金属筛查、环境现场检测。中功率管（50–200 W）涵盖侧...
管电压和管电流对荧光分析X射线管的分辨率有何影响？荧光分析X射线管的分辨率核心为能量分辨率（EDXRF关键指标），波长分辨率（WDXRF核心）主要受分光晶体影响，管电压和管电流对分辨率均为间接影响，其中管电压起掌控作用，管电流影响次要且存在阈值效应，二者需结合探测器性能共同作用。管电压通过调控X射线能量分布、背景噪声及谱线干扰，间接掌控分辨率表现。分辨率的本质是区分相邻元素特征峰的能力，背景噪声是核心干扰因素。管电压过高时，连续X射线的高能背景强度剧增，会淹没轻元素（如Na、Mg）低能特征峰，导致峰宽展宽、相邻峰分离度下降，如Al与Si的Kα峰易重叠；电压过低时，若未达到靶材或样品元素激发电压，特征峰强度不足、信噪比低，也会表现为分辨率恶化。同时，管电压决定激发谱线类型，过高电压会使重元素同时产生K系、L系谱线，若不同元素的K/L系峰能量接近（如Pb Lα与As Kα），会引发峰重叠，进一步降低分辨率。此外，高压会增强X射线穿透深度，激发更多基质元素产生散射背景，加剧峰宽展宽；低压聚焦表层元素，可减少基质干扰，让峰形更窄、分辨率更优。管电流对分辨率的影响远小于管电压，仅通过计数率影响统...
荧光分析X射线管的工作电压和电流如何影响其性能？荧光分析X射线管：电压与电流对性能的影响管电压（kV）和管电流（μA/mA）是决定荧光分析X射线管激发性能、检测精度与适用场景的核心参数。二者分别通过“能量调控”和“强度调控”作用于X射线输出，且受额定功率约束相互关联，共同检测效果与器件寿命。管电压的核心作用是决定X射线的激发能量与穿透能力。其直接影响阴极电子加速后的动能，进而决定连续X射线谱的短波限（Z高能量）和特征X射线强度。检测轻元素（Na、Mg、Al等，Z<11）时，需低电压（10–25 kV），此时低能X射线占比高，可有效激发轻元素L/K系特征荧光，避免高压产生的强背景散射降低信噪比；检测重元素（Pb、Cd、Hg等，Z>40）时，需中高电压（30–50 kV），确保电子动能足以激发重元素高能K系特征谱，同时增强穿透性以激发样品内部元素，减少表层基质干扰。此外，电压上限决定检测元素范围，便携EDXRF（上限50 kV）覆盖Mg–U，部分WDXRF（60–75 kV）可拓展至超铀元素。管电流的核心作用是调控X射线输出强度与计数率。电流代表单位时间撞击阳极靶的电子数量，直...
丹东深博电子仪器有限公司，始建于2002年，至今已有20余载，公司始终在X射线管行业深耕细做，我们主要致力于生产结构分析X射线管、荧光分析X射线管、晶体分析X射线管、测厚X射线管、工业探伤X射线管的研制、开发与生产，并且制造和维修各种高压电缆，同时公司承接国家重大专项项目。公司产品可为国内外各种X射线衍射仪、晶体分析仪、应力测定仪、X射线荧光光谱仪、X射线探伤机等仪器配套。另外，在宝石测定、钢板、铝铂在线测厚等行业和部门也得到广泛应用。
结构分析X射线管的主要性能指标有哪些？结构分析 X 射线管是 X 射线衍射（XRD）、小角散射（SAXS）等材料微观结构研究的核心光源，其性能指标直接决定分析精度与效率，核心围绕射线质量、输出稳定性、工作能力三大维度，各指标需紧密匹配 “晶体结构解析” 对 “单色、准直、稳定” 的特殊需求，具体如下：一、射线质量指标：决定分析精度的核心射线质量是结构分析的基础，直接影响衍射峰分辨率、峰位准确性与背景干扰，关键指标包括：1. 特征射线波长与单色性结构分析依赖单一波长射线与晶体晶格的准确作用：波长准确性：需与靶材特征射线标准值高度一致（如铜靶 Kα₁标准波长 0.15406nm、钼靶 Kα₁ 0.07093nm），实际偏差≤±0.0001nm。若偏差过大（如铜靶波长偏差 0.0005nm），会导致晶格参数计算误差超 0.1%，影响物相鉴定结果。单色性：需过滤连续谱与杂散特征谱（如 Kβ 射线），仅保留目标射线（如 Kα₁/Kα₂双线或纯 Kα₁），非目标射线占比≤1%。单色性差会抬高衍射背景，掩盖含量＜5% 的微量物相衍射峰，导致漏检。2. 射线强度与强度均匀性强度决定信号信噪比与检测效率...
如何避免强电磁干扰对X射线管工作参数的影响？强电磁干扰（如高频辐射、地环流）会干扰 X 射线管高压电源信号、偏移电子加速轨迹，导致管压漂移、管流震荡，需从 “屏蔽隔离、接地优化、线路防护、环境规避” 四方面构建防护体系，具体方法如下：首先，强化电磁屏蔽以阻断干扰传播。设备外壳需用厚度≥1.5mm 的冷轧钢板或镀锌钢板制作，板间用焊接或导电胶密封，操作面板、观察窗口加装≥80 目的铜网屏蔽层，确保对 10kHz-1GHz 高频干扰的屏蔽效能≥40dB。荧光分析设备的样品舱需单独设计屏蔽腔，舱门接触处加装导电泡棉，形成密闭屏蔽空间。高压电源需置于金属屏蔽盒内，盒内铺铁氧体吸波片，控制电路板覆盖接地铜箔，减少内部元件辐射与外部干扰侵入。其次，优化接地系统消除地环流干扰。X 射线管设备需单独设置接地极，采用直径≥50mm、长≥2.5m 的镀锌钢管，埋入地下并添加降阻剂（接地电阻≤4Ω），用≥16mm² 多股铜缆连接设备，铜缆外套金属穿线管。设备内部区分 “信号地”“功率地”“屏蔽地”，分别接至铜质接地汇流排（截面积≥25mm²），再单点连至外部接地极，避免地环流。同时，机房设置等电位联结端子箱...
X 射线管的工作参数（管压、管流、功率）稳定性，易受外部环境中温湿度波动、强电磁干扰、振动冲击、电源波动四大类因素显著影响。这些因素通过破坏电源精度、干扰电子传输、损坏硬件接触状态，直接或间接导致管压漂移、管流震荡，甚至缩短设备寿命，具体影响机制与表现如下：温湿度剧烈波动是较基础且影响直接的干扰因素。温度方面，X 射线管的高压电源依赖电容、电阻等精密元件，这些元件对温度敏感：环境温度超过 30℃时，电容容量会衰减、电阻阻值漂移，导致高压输出精度下降（如管压波动从 ±0.1% 扩大至 ±0.5%）；温度低于 10℃则会增加管体绝缘油黏度，降低散热效率，使靶材温度异常升高，进而引发管流不稳定。更危险的是温度骤变（短时间温差超 5℃），会造成电源线路与管体部件热胀冷缩不均，导致高压接头松动，进一步加剧参数波动。湿度方面，相对湿度超过 70% 时，管体绝缘陶瓷、高压线缆外皮会受潮，绝缘电阻从 10¹²Ω 骤降至 10⁸Ω 以下，引发漏电 —— 部分高压电流通过受潮部件泄漏，而非用于加速电子，导致管压实际值低于设定值，且泄漏电流不稳定会造成管压持续漂移；若环境温度接近露点形成凝露，还可能引发高压...
如何保证X射线管工作参数的稳定性？X 射线管工作参数（管压、管流、功率）的稳定性，是保障检测精度、延长设备寿命的关键，其稳定性受电源输出、散热效率、硬件状态、环境干扰及操作规范影响，需从多维度系统管控，具体方法如下：首先，需匹配高精度专用电源并定期校准，从源头控制参数输出。应根据 X 射线管额定参数（如管压 5-100kV、管流 10-1000μA）选择专用高压电源，荧光分析用管需确保管压波动≤±0.1%、管流波动≤±0.5%，同时电源需具备过压 / 过流保护功能，避免参数骤变损坏设备。此外，电源与射线管需阻抗匹配，连接线缆选用高绝缘屏蔽线，减少电压衰减与电磁干扰。每 3-6 个月需用高压分压器、微电流计校准电源输出，若偏差超范围，通过软件或电位器修正，确保设定值与实测值一致。其次，强化散热系统管控，避免温度波动影响参数。X 射线管工作时 99% 能量转化为热能，散热不良会导致靶材、灯丝过热，引发参数漂移。风冷型管需每月清理风扇灰尘，检查转速是否达标（如低于额定值 90% 需更换）；水冷型管需定期检查冷却液水位与浓度（乙二醇溶液 30%-50%），确保水泵流量稳定，每 6-12 个月更...
荧光分析X射线管的工作参数主要有哪些？荧光分析 X 射线管的工作参数直接决定初级 X 射线的能量、强度与激发效率，是适配不同元素检测需求、保障 XRF 检测准确性的关键。其核心参数可归纳为能量控制参数（管电压） 、强度控制参数（管电流） 及辅助适配参数（工作模式、聚焦方式） 三类，参数设置需紧密结合目标元素特性与样品类型，具体如下：管电压（kV）是决定初级 X 射线能量水平的核心，直接影响能否有效激发目标元素。其原理是：管电压越高，电子加速能量越强，撞击靶材后产生的初级射线能量越高。每种元素的内层电子都有固定 “激发能”（如 Na 的激发能约 1.0keV，Fe 约 7.1keV，Pb 约 88keV），只有初级射线能量高于激发能 1.2-2 倍时，才能击出内层电子产生荧光。设置时需按元素类型调整：检测 Na、Mg 等轻元素（激发能 1-5keV），管压设 5-15kV，过高会增强基体散射干扰；检测 Fe、Cu 等中重元素（激发能 5-15keV），管压设 10-30kV，避免靶材多余射线与荧光信号重叠；检测 Pb、Hg 等重元素（激发能 15-100keV），管压需提至 30-100...
荧光分析X射线管的激发效率受哪些因素影响？荧光分析 X 射线管的激发效率，核心是初级 X 射线对样品元素的有效激发能力，直接决定 XRF 检测的灵敏度与数据准确性。其效率并非固定值，主要受工作参数、靶材特性、样品状态、硬件性能四大维度因素影响，各因素通过改变初级射线的能量匹配度、强度稳定性与能量损耗程度，间接影响激发效果，具体如下：首先，X 射线管的工作参数是核心影响因素。管压决定初级射线的能量范围，需与目标元素的激发能准确匹配 —— 检测 Na、Mg 等轻元素（激发能 1-5keV）时，管压需控制在 5-15kV，过高会产生大量高能射线，增强基体散射干扰；检测 Pb、Hg 等重元素（激发能 10-20keV），则需 30-80kV 高管压，否则能量不足无法激发内层电子。管流影响初级射线强度，检测微量元素（如土壤中 0.1ppm 的 As）时，适当提高管流至 500-1000μA 可增强荧光信号，但过高会导致靶材过热或探测器饱和；检测高含量元素则需降低管流，避免能量浪费。此外，工作模式也有影响，检测塑料等热敏样品时，脉冲模式（如 100Hz 频率、50% 占空比）可减少样品受热变形，维...
如何提高荧光分析X射线管的激发效率？荧光分析 X 射线管的激发效率，本质是初级 X 射线对样品元素的有效激发能力，直接影响 XRF 检测的灵敏度与数据准确性。提升效率需围绕 “能量准确匹配”“减少损耗干扰”“保障硬件状态” 三大核心，从参数优化、靶材适配、样品处理等多维度入手，具体方法如下：首先，准确匹配 X 射线管工作参数是核心。管压和管流直接决定初级 X 射线的能量与强度，需严格按目标元素的激发特性调整。每种元素的内层电子都有固定激发能，管压需高于该激发能 1.2-2 倍才能有效击出电子 —— 检测 Na、Mg 等轻元素（激发能 1-5keV）时，管压需控制在 5-15kV，过高会产生大量高能射线，反而增强基体散射干扰；检测 Fe、Cu 等中重元素（激发能 5-10keV），管压设定为 10-30kV，既能覆盖激发需求，又避免靶材多余特征射线干扰；检测 Pb、Hg 等重元素（激发能 10-20keV），则需 30-80kV 的高管压，确保穿透样品表层激发内层电子。管流需结合元素含量调整，检测微量元素（如土壤中 0.1ppm 的 As）时，适当提高管流至 500-1000μA，增强初...
荧光分析X射线管的运用能量色散光谱仪能量色散光谱仪定量分析条件的选择与波长色散光谱仪定量分析条件的选择相比较，相对于所用仪器来说要简单一些，但能量色散光谱仪种类繁多，如有用二次靶的，也有用偏振光的，它们各有特色，因此应在熟悉所用仪器性能的条件下，就其特性选择适合的分析条件，以满足分析要求。它的条件选择主要有提供给X射线管的管压和管电流、谱线、滤光片的选择和测定时间。谱线有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供选择，通常原子序数小于42的元素用K系线，大于42的元素用L系线，有时亦可选M系线。为了便于获取待测元素的净强度，对使用Si-PIN和Si(Li)探测器的谱仪，在解谱时不仅考虑待测元素，还应考虑与待测元素谱相近的基体中其他元素，特别是重元素L和M系线的干扰。对于低分辨率谱仪如使用封闭式正比计数管的谱仪，通常测定纯元素谱，并以谱的半高宽左右两侧的能量作为感兴趣区的起点和终点。荧光分析X射线管管压和管电流的选择原则与在波长色散光谱仪中的不同，所用管压通常比待测元素的激发电位高3～5kev,而在波长色散光谱仪中要比激发电位大4～10倍，同时管电流一般均较小，它受能量色散光谱仪所允许的Z大计数...
结构分析X射线管衍射仪技术X射线衍射仪技术，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。X射线管是X射线机中的主要元件，是一个高真空器件。现在所使用的热阴极电子X射线管，其基本原理是利用阴极的热发射电子束在高压电场的作用下高速飞向阳极靶面，靶面受电子轰击，产生X线。医用X线管，按用途可分为诊断用X射线管和治疗用x射线管。两种X射线管的原理基本一致，易震裂，存放时间较长时，各电极可能有自然出气现象，使用前须对它进行仔细的检查和实验。当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。很多材料...
结构分析X射线管运用的设备X-Ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式检测的位置，利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化，产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构，进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。三维X射线扫描是以非破坏性X射线透视技术（简称CT），将待测物体做360°自转，通过单一轴面的结构分析X射线管射线穿透被测物体，根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同，收集每个角度的穿透图像，之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。CT是采用计算机断层扫描技术对产品进行无损检测（NDT）和无损评价（NDE）的手段，利用断层成像技术，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。CT扫描取代传统的破坏性监测和分析，任何方向上的非破坏性切片和成像，不受周围细节特征的遮挡，可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。汽车、金属材料、模具、逆向工程、尺寸测量、塑胶材料、铁路、电子电器、医疗器械、航空航天、科研院所、军工国防等。金属材料及零部件、塑胶材...
结构分析X射线管的发展充气X射线管是早期的X射线管。1895年，W.C.伦琴在进行克鲁克斯管实验时发现了 X射线。克鲁克斯管就是早期的充气X射线管。这种管接通高压后,管内气体电离，在正离子轰击下，电子从阴极逸出，经加速后撞击靶面产生X射线。充气X射线管功率小、寿命短、控制困难，后已很少应用。1913年，W.D.库利吉发明了真空 X射线管。管内真空度不低于10-4 帕。阴极为直热式螺旋钨丝，阳极为铜块端面镶嵌的金属靶。根据管子的用途选择靶材和电子束能量，常用钨作靶材。在某些用途下，还采用银、钯、铑、钼、铜、镍、钴、铁、铬等材料。阴极工作温度约为2000K,发射出的电子经数万至数十万伏高压加速后撞击靶面。阴极被一个前端开槽的金属罩包围。金属罩的电位等于或低于阴极，迫使电子聚焦在靶面上的一个狭窄区域内,形成焦斑。X射线就从焦斑上向各个方向辐射，通过管壁上的窗口输出。窗口一般用对 X射线吸收很小的铍、铝或轻质玻璃制成，以铍片为佳。结构分析X射线管对X射线管的要求是焦点小，强度大,以形成较大的功率密度。因此，在阳极上须供给比较大的功率,但X射线管的效率很低，99％以上的电子束功率成为阳极热耗，而...
丹东深博电子仪器有限公司，始建于2002年，至今已有20余载，公司始终在X射线管行业深耕细做，我们主要致力于生产结构分析X射线管、荧光分析X射线管、晶体分析X射线管、测厚X射线管、工业探伤X射线管的研制、开发与生产，并且制造和维修各种高压电缆，同时公司承接国家重大专项项目。公司产品可为国内外各种X射线衍射仪、晶体分析仪、应力测定仪、X射线荧光光谱仪、X射线探伤机等仪器配套。另外，在宝石测定、钢板、铝铂在线测厚等行业和部门也得到广泛应用。
结构分析X射线管的物质结构分析物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但是XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)有力的方法，而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手段，具有无损试样的优点。X射线衍射仪的基本构造：X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, X射线衍射仪主要部件包括4部分。结构分析X射线管高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。X射线管发生出来的不是纯净的单色光...
