丹东深博电子仪器有限公司，始建于2002年，至今已有20余载，公司始终在X射线管行业深耕细做，我们主要致力于生产结构分析X射线管、荧光分析X射线管、晶体分析X射线管、测厚X射线管、工业探伤X射线管的研制、开发与生产，并且制造和维修各种高压电缆，同时公司承接国家重大专项项目。
公司产品可为国内外各种X射线衍射仪、晶体分析仪、应力测定仪、X射线荧光光谱仪、X射线探伤机等仪器配套。另外，在宝石测定、钢板、铝铂在线测厚等行业和部门也得到广泛应用…
这款型号为DYX-4000的大功率端窗X射线管，是专门为波长色散荧光光谱仪定量分析而设计的。在X射线荧光光谱分析中，通过短靶至样品距离提供高强度宽谱X射线束。
结构分析X射线管 型号：JTXJ10-60N 用途：适用于X射线衍射仪
XJ10-60N型X射线管是一种X射线衍射管
XJ10-60N型X射线管是一种X射线衍射管
XJ10-60N型X射线管是一种X射线衍射管
XY7-501型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
XY7-501GFT型X射线管是多用途侧窗低能型X射线管
XY7-501C型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
XY7-501-68型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
XY7-501-82型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
XY7-501T-82型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
XY7-501GFF型X射线管是多用途侧窗低能型X射线管
XY6-301型X射线管是侧窗通用型低能X射线管
ZXY7SL-502型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
XY16-6501B型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
XY7-501GFT型X射线管是多用途侧窗低能型X射线管
XY7-501TAX型X射线管是侧窗多用低能型X射线管
ZXY7SL-502型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
XY7-501GFF型X射线管是多用途侧窗低能型X射线管…
XY7-501GF型X射线管是一种低能多用途侧窗型X射线管
荧光分析X射线管的激发效率受哪些因素影响？荧光分析 X 射线管的激发效率，核心是初级 X 射线对样品元素的有效激发能力，直接决定 XRF 检测的灵敏度与数据准确性。其效率并非固定值，主要受工作参数、靶材特性、样品状态、硬件性能四大维度因素影响，各因素通过改变初级射线的能量匹配度、强度稳定性与能量损耗程度，间接影响激发效果，具体如下：首先，X 射线管的工作参数是核心影响因素。管压决定初级射线的能量范围，需与目标元素的激发能准确匹配 —— 检测 Na、Mg 等轻元素（激发能 1-5keV）时，管压需控制在 5-15kV，过高会产生大量高能射线，增强基体散射干扰；检测 Pb、Hg 等重元素（激发能 10-20keV），则需 30-80kV 高管压，否则能量不足无法激发内层电子。管流影响初级射线强度，检测微量元素（如土壤中 0.1ppm 的 As）时，适当提高管流至 500-1000μA 可增强荧光信号，但过高会导致靶材过热或探测器饱和；检测高含量元素则需降低管流，避免能量浪费。此外，工作模式也有影响，检测塑料等热敏样品时，脉冲模式（如 100Hz 频率、50% 占空比）可减少样品受热变形，维...
如何提高荧光分析X射线管的激发效率？荧光分析 X 射线管的激发效率，本质是初级 X 射线对样品元素的有效激发能力，直接影响 XRF 检测的灵敏度与数据准确性。提升效率需围绕 “能量准确匹配”“减少损耗干扰”“保障硬件状态” 三大核心，从参数优化、靶材适配、样品处理等多维度入手，具体方法如下：首先，准确匹配 X 射线管工作参数是核心。管压和管流直接决定初级 X 射线的能量与强度，需严格按目标元素的激发特性调整。每种元素的内层电子都有固定激发能，管压需高于该激发能 1.2-2 倍才能有效击出电子 —— 检测 Na、Mg 等轻元素（激发能 1-5keV）时，管压需控制在 5-15kV，过高会产生大量高能射线，反而增强基体散射干扰；检测 Fe、Cu 等中重元素（激发能 5-10keV），管压设定为 10-30kV，既能覆盖激发需求，又避免靶材多余特征射线干扰；检测 Pb、Hg 等重元素（激发能 10-20keV），则需 30-80kV 的高管压，确保穿透样品表层激发内层电子。管流需结合元素含量调整，检测微量元素（如土壤中 0.1ppm 的 As）时，适当提高管流至 500-1000μA，增强初...
荧光分析X射线管的运用能量色散光谱仪能量色散光谱仪定量分析条件的选择与波长色散光谱仪定量分析条件的选择相比较，相对于所用仪器来说要简单一些，但能量色散光谱仪种类繁多，如有用二次靶的，也有用偏振光的，它们各有特色，因此应在熟悉所用仪器性能的条件下，就其特性选择适合的分析条件，以满足分析要求。它的条件选择主要有提供给X射线管的管压和管电流、谱线、滤光片的选择和测定时间。谱线有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供选择，通常原子序数小于42的元素用K系线，大于42的元素用L系线，有时亦可选M系线。为了便于获取待测元素的净强度，对使用Si-PIN和Si(Li)探测器的谱仪，在解谱时不仅考虑待测元素，还应考虑与待测元素谱相近的基体中其他元素，特别是重元素L和M系线的干扰。对于低分辨率谱仪如使用封闭式正比计数管的谱仪，通常测定纯元素谱，并以谱的半高宽左右两侧的能量作为感兴趣区的起点和终点。荧光分析X射线管管压和管电流的选择原则与在波长色散光谱仪中的不同，所用管压通常比待测元素的激发电位高3～5kev,而在波长色散光谱仪中要比激发电位大4～10倍，同时管电流一般均较小，它受能量色散光谱仪所允许的Z大计数...
结构分析X射线管衍射仪技术X射线衍射仪技术，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。X射线管是X射线机中的主要元件，是一个高真空器件。现在所使用的热阴极电子X射线管，其基本原理是利用阴极的热发射电子束在高压电场的作用下高速飞向阳极靶面，靶面受电子轰击，产生X线。医用X线管，按用途可分为诊断用X射线管和治疗用x射线管。两种X射线管的原理基本一致，易震裂，存放时间较长时，各电极可能有自然出气现象，使用前须对它进行仔细的检查和实验。当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。很多材料...
结构分析X射线管运用的设备X-Ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式检测的位置，利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化，产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构，进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。三维X射线扫描是以非破坏性X射线透视技术（简称CT），将待测物体做360°自转，通过单一轴面的结构分析X射线管射线穿透被测物体，根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同，收集每个角度的穿透图像，之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。CT是采用计算机断层扫描技术对产品进行无损检测（NDT）和无损评价（NDE）的手段，利用断层成像技术，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。CT扫描取代传统的破坏性监测和分析，任何方向上的非破坏性切片和成像，不受周围细节特征的遮挡，可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。汽车、金属材料、模具、逆向工程、尺寸测量、塑胶材料、铁路、电子电器、医疗器械、航空航天、科研院所、军工国防等。金属材料及零部件、塑胶材...
结构分析X射线管的发展充气X射线管是早期的X射线管。1895年，W.C.伦琴在进行克鲁克斯管实验时发现了 X射线。克鲁克斯管就是早期的充气X射线管。这种管接通高压后,管内气体电离，在正离子轰击下，电子从阴极逸出，经加速后撞击靶面产生X射线。充气X射线管功率小、寿命短、控制困难，后已很少应用。1913年，W.D.库利吉发明了真空 X射线管。管内真空度不低于10-4 帕。阴极为直热式螺旋钨丝，阳极为铜块端面镶嵌的金属靶。根据管子的用途选择靶材和电子束能量，常用钨作靶材。在某些用途下，还采用银、钯、铑、钼、铜、镍、钴、铁、铬等材料。阴极工作温度约为2000K,发射出的电子经数万至数十万伏高压加速后撞击靶面。阴极被一个前端开槽的金属罩包围。金属罩的电位等于或低于阴极，迫使电子聚焦在靶面上的一个狭窄区域内,形成焦斑。X射线就从焦斑上向各个方向辐射，通过管壁上的窗口输出。窗口一般用对 X射线吸收很小的铍、铝或轻质玻璃制成，以铍片为佳。结构分析X射线管对X射线管的要求是焦点小，强度大,以形成较大的功率密度。因此，在阳极上须供给比较大的功率,但X射线管的效率很低，99％以上的电子束功率成为阳极热耗，而...
丹东深博电子仪器有限公司，始建于2002年，至今已有20余载，公司始终在X射线管行业深耕细做，我们主要致力于生产结构分析X射线管、荧光分析X射线管、晶体分析X射线管、测厚X射线管、工业探伤X射线管的研制、开发与生产，并且制造和维修各种高压电缆，同时公司承接国家重大专项项目。公司产品可为国内外各种X射线衍射仪、晶体分析仪、应力测定仪、X射线荧光光谱仪、X射线探伤机等仪器配套。另外，在宝石测定、钢板、铝铂在线测厚等行业和部门也得到广泛应用。
结构分析X射线管的物质结构分析物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但是XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)有力的方法，而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手段，具有无损试样的优点。X射线衍射仪的基本构造：X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, X射线衍射仪主要部件包括4部分。结构分析X射线管高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。X射线管发生出来的不是纯净的单色光...
荧光分析X射线管运用的分析方法X射线荧光光谱法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤须有非常好的重复操作可能性；用于制作校准曲线的标准样品和分析样品须经过同样的制样处理过程。X射线荧光分析仪从根本上来说是一种相对测量仪器，因此在使用过程中，需要定期对仪器进行标定和校准。为保证有害元素含量的控制效果，X射线荧光分析仪的测量数据应与其他的测量手段结合起来使用；X射线荧光分析仪更适合生产过程的监控，甚至可以说：在生产过程中对有害元素含量的监控，X射线荧光分析方法是目前可行的分析手段；而有害元素含量的最终裁定，则不应该仅仅依靠单一的测量手段。荧光分析X射线管X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。被测量样品的处理与测量精度的关系：从X射线荧光分析理论上说，对被测量样品进行需要的处理是须的；一般来说，样品处理的越好，则测量精度就会越高，测量结果越可靠。在实际使用过程中，我们应该尽量对被测量样品进行需要的物理处理。在测量不规则的样品时，虽然从X射线荧光分析方...
荧光分析X射线管的光谱校正曲线法X射线荧光光谱校正曲线法要求标准样和样品的物理化学形态、分析元素的浓度范围尽可能一致。在许多情况下，分折线强度并不随着其浓度的增加而增加，需对基体进行校正后，方能绘制工作曲线。早期X射线荧光光谱定量分析主要使用校正曲线方法获得定量分析结果，以作图法制定校正曲线。通常以浓度C,为横坐标，I为纵坐标。现在则通过计算机用Z小二乘法进行计算，X射线荧光光谱曲线上各数据点与曲线上相对应的数据偏差的平方和Z小。荧光分析X射线管在X射线荧光光谱测定痕量元素时，若背景能准确扣除，也可强制通过零点，以便获得更准确的结果。其数学表达式表示为Ci=EiLi+Di式中E和D分别代表曲线的斜率和截距，D的单位是浓度，E的倒数是方法的灵敏度C,是待测元素i的浓度i,是待测元素的强度，校正曲线以直线表示为好，也可用二次曲线，只是用二次曲线需要较多的标样，且可能存在危险，故建议尽可能少用。使用X射线荧光光谱时，我们通常希望曲线的斜率陡一些，这样在浓度变化很小时，分析线强度变化很大。荧光分析曲线斜率的大小与基体的质量吸收系数有关，也就是说，质量吸收系数越大，斜率越小。同时斜率与特征谱线的...
荧光分析X射线管确定微量元素含量的助手荧光分析X射线是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用荧光分析X射线管辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。在波长色散X射线光谱仪中，由于使用分光晶体，是的待测元素的分析谱线可以较好分离，故通过使用分辨率较低的流气式正比计数器和NaI闪烁技术器作为X射线探测器。分光晶体与低分辨率探测器的结合应用，使得波长色散X射线光谱仪的整体分辨率要优于使用常规半导体Si探测器的能量色散X射线光谱仪。由于同步辐射具有强度高、准直好、偏振性、波长连续可调等优点，使得同步辐射X射线荧光分析比常规X射线荧光分析，具有更高的灵敏度和更小的微区分析能力，可以解决一些常规X光源不能解决的科研和实际应用问题。可以进行各种材料的微区、微量元素的无损成分分析，谱的信噪比与改造前的白光谱相比提高了近两个数量级。在微束荧光分析方面，已可以达到空间分辨10~50mm，可以开展例如单个流体地质包裹体的无损...
荧光分析X射线管的发展前途初期的X射线探测器是无能量分辨能力的盖革计数器，现在已发展处了多种类型、不同用途，并具有几号分辨率的各种X射线探测器。特别是近几年，随着太空探测技术和超导材料研究的进步，X射线能量探测器技术取得了显著的进展。目前除了正比计数器、闪烁计数器及Si（Li）探测器等广泛应用于各种商用仪器外，各种基于半导体原理及超导性等制成的能量探测器也取得了显著进步。电磁辐射激发X荧光分析，简称EDXRF。电磁辐射激发一般用X射线管或X射线荧光分析Fe、238Pu、X射线荧光分析Cd、241、X射线荧光分析Co等放射性同位素作激发源。这时它的探测极限虽不及PIXE，但制样简便，常常可以直接分析原始样品，而且既能分析低含量样品，又能分析高含量样品，因此应用更为广泛。X射线在物质中的穿透能力较大,故能测量较厚样品中的元素平均含量。荧光分析X射线管当使用放射性同位素作激发源时能够制成便携式的仪器，不仅可用于实验室，还可以用于工厂、野外地质和矿山。当使用电子同步加速器或电子储存环发出的高强度偏振辐射作激发源时，探测极限比PIXE好几个数量级。若再使用晶体单色器，还可以制成同步辐射X射线微探...
荧光分析X射线管技术有哪些应用？人头发中的极微量元素往往反映出人体的很多内在情况，而它们的浓度与病理病态的关系研究则是当今生物医学的一个重要方面。过去常用原子吸收光谱法分析，但这一方法需要较多的头发，且只能用一次（毁坏性的分析方法），每次又只能分析一种元素。现在采用质子X射线荧光分析方法，只需要几根头发，用从X射线管发射的能量为2 MeV、流强20 hA的质子束，照射头发样品约30 min，即可得到头发中各元素的能谱。不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对荧光分析X射线管发出射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。质子X射线荧光分析技术由于能够在非真空条件下分析含量少、浓度低的元素，并且一次可同时分析多种元素，灵敏度高，随原子序数增大不会发生突变，属于可以定量和定标的非破坏性快速分析技术，在环境污染的监测、生物和医学样品的分析、考古研究及...
X射线管组件 、安检X射线管 、X射线源组件这三者的的区别？X射线管是产生X射线的核心零件，是一个真空电子管，其内部包含有阳极、阴极、玻璃或陶瓷外壳等。因为在工作时，X射线管上要承受高电压，所以X射线管通常是浸在绝缘的油中或SF6气体中。X射线管组件是将X射线管与一些外围的零件组合而成的一个部件，外围零件通常会有屏蔽射线的铅筒、如果是旋转阳极的，还会有旋转阳极的静子、高压电缆接口、绝缘油、防止因为温度变化，油的体积变化产生过大压力的膨胀器、密封的金属外壳等。X射线管组件的外壳是零电位的。X射线源，给X射线管组件配上一个高压电源以及相关控制器，就是X射线源组件了。对外只需要控制接口以及电源，就可以用来产生X射线。也有一些X射线源是把X射线管、高压电路、绝缘与屏蔽、控制电路等做在一起的一体化设备，称为MONOBLOCK。体积较小，使用和运输相对方便一些，但是功率也小。在安检领域常见。医疗和工业上常用的大功率X射线装置，一般是分开的，就是有X射线管组件与电源控制器两大部分的。X射线安检仪是采用X射线扫描成像技术对行李进行安全检测的电子设备，由X射线发生器、X射线探测器、图像处理系统等部分组成...
荧光分析X射线管的运用能量色散光谱仪能量色散光谱仪定量分析条件的选择与波长色散光谱仪定量分析条件的选择相比较，相对于所用仪器来说要简单一些，但能量色散光谱仪种类繁多，如有用二次靶的，也有用偏振光的，它们各有特色，因此应在熟悉所用仪器性能的条件下，就其特性选择适合的分析条件，以满足分析要求。它的条件选择主要有提供给X射线管的管压和管电流、谱线、滤光片的选择和测定时间。谱线有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供选择，通常原子序数小于42的元素用K系线，大于42的元素用L系线，有时亦可选M系线。为了便于获取待测元素的净强度，对使用Si-PIN和Si(Li)探测器的谱仪，在解谱时不仅考虑待测元素，还应考虑与待测元素谱相近的基体中其他元素，特别是重元素L和M系线的干扰。对于低分辨率谱仪如使用封闭式正比计数管的谱仪，通常测定纯元素谱，并以谱的半高宽左右两侧的能量作为感兴趣区的起点和终点。荧光分析X射线管管压和管电流的选择原则与在波长色散光谱仪中的不同，所用管压通常比待测元素的激发电位高3～5kev,而在波长色散光谱仪中要比激发电位大4～10倍，同时管电流一般均较小，它受能量色散光谱仪所允许的Z大计数...
结构分析X射线管衍射仪技术X射线衍射仪技术，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。X射线管是X射线机中的主要元件，是一个高真空器件。现在所使用的热阴极电子X射线管，其基本原理是利用阴极的热发射电子束在高压电场的作用下高速飞向阳极靶面，靶面受电子轰击，产生X线。医用X线管，按用途可分为诊断用X射线管和治疗用x射线管。两种X射线管的原理基本一致，易震裂，存放时间较长时，各电极可能有自然出气现象，使用前须对它进行仔细的检查和实验。当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。很多材料...
结构分析X射线管发生器衍射仪是进行X射线分析的重要设备，主要由X射线发生器、测角仪、记录仪和水冷却系统组成。新型的衍射仪还带有条件输入和数据处理系统。X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、结构分析X射线管、热交换器。产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产生X射线的原理。样品进给器，是样品进入真空系统的一个过渡。因为荧光X射线在空气中会被衰减，所以样品分析需要在真空环境下进行。这样，试样就需要从大气状态进入真空环境。 X射线管的实质是个真空二极管，其阴极是钨丝，阳极为金属片。在阴极两端加上电流之后，钨丝发热，产生热辐射电子。这些电子在高压电场作用下被加速，轰击阳极（又称靶），产生X射线（此过程产生大量热量，为了保护靶材，须确保循环水系统工作正常）。样品室连接样品进给器和分析室，与二者一起组成真空腔。样品在样品室里完成样品的升举、下降、样品交换和自旋。滤片的作用是消除可能提高背景或对某些元素产生迭谱干扰的特征谱线，从而提高对这些元素分析的灵敏度。滤波片采用K吸收缘介于元素的Kα和Kβ的波长之间的材料制成。由于来自X光管的X射线...
结构分析X射线管运用的设备X-Ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式检测的位置，利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化，产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构，进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。三维X射线扫描是以非破坏性X射线透视技术（简称CT），将待测物体做360°自转，通过单一轴面的结构分析X射线管射线穿透被测物体，根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同，收集每个角度的穿透图像，之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。CT是采用计算机断层扫描技术对产品进行无损检测（NDT）和无损评价（NDE）的手段，利用断层成像技术，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。CT扫描取代传统的破坏性监测和分析，任何方向上的非破坏性切片和成像，不受周围细节特征的遮挡，可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。汽车、金属材料、模具、逆向工程、尺寸测量、塑胶材料、铁路、电子电器、医疗器械、航空航天、科研院所、军工国防等。金属材料及零部件、塑胶材...
