X射线荧光光谱与样品的化学键合状态无关，与固体，粉末，液体，晶体，无定形和其他物质的状态无关。但是，在高分辨率精度测量中，可以看到波长变化和其他现象。在超柔和的X射线范围内，这种效果更为明显。波长的变化用于确定化学势。 无损分析。测量过程中，化学状态不会改变，样品也不会扩散。可以重复测量同一样品，重复性好。

X射线荧光分析是一种物理分析方法，因此也可以分析化学性质属于同一组的元素。分析精度高。样品制备简单，可以分析固体，粉末和液体样品。矿石分析仪主要用于分析地质矿石样品的化学成分。充分利用Android操作系统和手机的强大共享功能，包括实时数据导出WiFi，蓝牙和GPS功能来共享和使用数据。 启动X或Z时，需选择要运行的程序。

荧光分析X射线管仪器中的每个应用程序都是根据您的应用程序预先配置和优化的。在操作的后期，人员也可以根据用户的分析要求，使用我们的桌面建模软件进行二次开发或定制分析方法。你需要什么？现场X射线荧光光谱仪（XRF）是一项可以快速准确地提供地质样品地球化学分析结果的技术。XRF分析仪是现场元素分析，金相关元素分析，过渡金属和重金属元素不可少的设备。

但是随着经济矿藏的发现越来越困难，勘探技术也在不断发展。 LIBS技术为XRF仪器分析结果提供了重要的地球化学信息，聪明的地质学家可以使用它来做出更好的决策。合金分析仪Z-200 C是世界上可以分析碳钢和不锈钢的碳含量的手持式分析仪。Z-200 C使用激光诱导击穿光谱法（HH-LIBS），使用波长为1064纳米，频率为50HZ的脉冲激光，每个脉冲激光的功率为5.5毫焦耳。内置光谱仪，分析光谱范围：190nm-620nm。 使用内置氩气。 低可检测到0.015％C。

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